AGS130-02
ポリスチレンラテックス球0.03㎛(10ml)
価格:¥7,500/個
在庫数:0
AGS130-04
ポリスチレンラテックス球0.08㎛(10ml)
価格:¥7,200/個
在庫数:0
AGS130-06
ポリスチレンラテックス球0.09㎛(10ml)
価格:¥7,200/個
在庫数:0
AGS171
Chessy サンプル
価格:¥380,000/個
・160万個のAu正方形配置/シリコン上
在庫数:0
AGS168
カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料
価格:¥23,600/個
・ピンスタブ上 12.5mmΦ3.2x8mmピン
在庫数:1
AGS168S
カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料
価格:¥23,600/個
・ピンスタブ上 12.5mmΦ3.2x6mmピン
在庫数:1
AGS168A
カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料
価格:¥23,600/個
・10mmJEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS168C
カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料
価格:¥23,600/個
・Hitachi製スタブ上
※粒子サイズは およそ5~150nm です。
在庫数:0
AGS1969
カーボン上金蒸着 高分解能測定試料
価格:¥38,300/個
・12.5mmピンスタブ上
在庫数:0
AGS1969A
カーボン上金蒸着 高分解能測定試料
価格:¥38,300/個
・JEOL製スタブ上(Φ12.5mm 3.2×8mm(H))
在庫数:0
AGS1969C
カーボン上金蒸着 高分解能測定試料
価格:¥38,300/個
・Hitachi製スタブ上
※粒子サイズはおよそ3~50nmです。
在庫数:0
AGS1987
カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料
価格:¥62,000/個
・12.5mmピンスタブ上
在庫数:0
AGS1987A
カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料
価格:¥59,600/個
・10mmJEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS1987C
カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料
価格:¥59,600/個
・15mmHitachi製スタブ上
※粒子サイズはおよそ2nm~30nmです。
在庫数:0
AGS168Z
カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料
価格:¥30,600/個
・12.5mmピンスタブ上
在庫数:0
AGS168AZ
カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料
価格:¥30,600/個
・10mmJEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS168CZ
カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料
価格:¥30,600/個
・Hitachi製スタブ上
※粒子サイズは30~300nmです。
在庫数:0
AGS1808
Pelco Nanogold分解能テストサンプル
価格:¥51,800/個
・12.5mmピンスタブ上
・38nm(±4nm)
在庫数:0
AGS1808A
Pelco Nanogold分解能テストサンプル
価格:¥59,800/個
・Φ10mm×5(H)JEOL製スタブ上
・38nm(±4nm)
在庫数:0
AGS1808C
Pelco Nanogold分解能テストサンプル
価格:¥51,800/個
・15mmΦHitachi製スタブ上
・38nm(±4nm)
・6mm(H)、M4ネジ穴(5mm)、シリンダータイプ
在庫数:0
※シリコン上金蒸着分解能観察用テストサンプルです。それぞれの粒子サイズは一定で既知のため、SEM、FIB/SEMにて高分解能テストに適しています。
AGS1937
カーボン上Sn球 分解能測定用試料
価格:¥47,100/個
・ピンスタブ上
在庫数:0
AGS1937A
カーボン上Sn球 分解能測定用試料
価格:¥45,200/個
・10mmJEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS1937C
カーボン上Sn球 分解能測定用試料
価格:¥47,100/個
・15mmHitachi製スタブ上
※粒子サイズはおよそ5nm~30㎛です。
在庫数:0
AGS1967
カーボン上Sn球 分解能測定用試料
価格:¥34,200/個
・ピンスタブ上
在庫数:0
AGS1967A
カーボン上Sn球 分解能測定用試料
価格:¥34,200/個
・JEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS1967C
カーボン上Sn球 分解能測定用試料
価格:¥32,900/個
・Hitachi製スタブ上
在庫数:0
※粒子サイズは約10~100nmです。
AGS1988
カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料
価格:¥44,200/個
・12.5mmピンスタブ上
在庫数:0
AGS1988A
カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料
価格:¥44,200/個
・10mmJEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS1988C
カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料
価格:¥44,200/個
・15mmHitachi製スタブ上
※粒子サイズは約20nm~400nmです。
在庫数:0
AGS145
中分解能 Al - W 樹脂状構造
価格:¥64,600/個
・マウント無し状態での提供
・グレーレベルテスト可能
在庫数:0
AGS1950
BSE標準試料 - Ni/Cu
価格:¥119,000/個
在庫数:0
AGS1951
BSE標準試料 - Pd/Au
価格:¥118,000/個
在庫数:0
AGS1952
BSE標準試料 - Pt/Au
価格:¥116,000/個
在庫数:0
AGS1954
BSE標準試料 - Al/Si
価格:¥123,000/個
在庫数:0
AGS1953
Duplex試料
価格:¥118,200/個
※平均原子番号の違いが僅か0.1である銅と亜鉛の合金試料です。
在庫数:0
AGS1990
Geller社 Reference Standard MRS3 -Non Traceable
価格:お問い合わせください
在庫数:0
AGS1991
Geller社 Reference Standard MRS3 -XY Traceable
価格:お問い合わせください
在庫数:0
AGS1992
Geller社 Reference Standard MRS3 -XYZ Traceable
価格:お問い合わせください
在庫数:0
X10~X50,000の校正サンプルとして使用可能
Pinスタブ用やHitachiスタブ用等のリテーナーが用意されています。
リテーナーも併せてお問い合わせください。
AGS1810
Geller社 Reference Standard MRS4 -Non Traceable
価格:お問い合わせください
在庫数:0
AGS1811
Geller社 Reference Standard MRS4 -XY Traceable
価格:お問い合わせください
在庫数:0
AGS1812
Geller社 Reference Standard MRS4 -XYZ Traceable
価格:お問い合わせください
在庫数:0
X10~X200,000の校正サンプルとして使用可能
Pinスタブ用やHitachiスタブ用等のリテーナーが用意されています。
リテーナーも併せてお問い合わせください。
AGS1862
144nm 認定較正用標準試料
価格:お問い合わせください
・12.5mmピンスタブ上
在庫数:0
AGS1862A
144nm 認定較正用標準試料
価格:お問い合わせください
・10mmJEOL製スタブ上
在庫数:0
AGS1862C
144nm 認定較正用標準試料
価格:お問い合わせください
・15mmHitachi製スタブ上
在庫数:0
※German PTB(Physikalisch-Technische Bundesanstalt)の認定試料です。AFM、STM、Auger、FIB、SEMに適しています。