AGG301
SEM試料スタブ
価格:¥8,000/100個
・アルミニウム製
在庫数:3式
AGG301B
SEM試料スタブ
価格:¥3,200/10個
・真鍮製
在庫数:0
AGG301C
SEM試料スタブ
価格:¥26,000/10個
・銅製
在庫数:0
※12.5mmΦ, 3.2mm × 8mm
FEI/PHILLIPS,ZEISS装置用
AGG301F
SEM試料スタブ
価格:¥8,000/100個
・LEO/ZEISS装置用
・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン
・アルミニウム製
在庫数:10式
AGG301F-B
SEM試料スタブ
価格:¥25,000/100個
・LEO/ZEISS装置用
・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン
・真鍮製
在庫数:0
AGG301P
SEMピンスタブ
価格:¥20,000/100個
・高純度アルミニウム製
・12.5mmΦ
在庫数:5式
AGG399
SEM試料スタブ
価格:¥21,700/50個
・アルミニウム製
在庫数:5式
AGG399B
SEM試料スタブ
価格:¥8,500/10個
・真鍮製
在庫数:0
※LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN, ZEISS製装置用
25mmΦ, 3.2 × 8mm
AGG399F
SEM試料スタブ
価格:¥21,700/50個
・25mmΦ
・3.2 × 6mmピン
・アルミニウム製
・LEO/ZEISS装置用
在庫数:4式
AGG3026
フラットピンスタブ
価格:¥8,900/10個
・12.7mmΦ
・薄型
・アルミニウム製
・ピン高さ 7.92mm
・全長 8.92mm
在庫数:9
AGG319
ピンスタブ
価格:¥35,000/個
・100mmΦ×9.5mm(ピン高さ)
・アルミニウム製
・AMRAY, Cambridge, Leica, ZEISS/LEO, FEI/Phillips, Camscan & TESCAN用
在庫数:1
AG16187-12
PELCO Q SEMピンスタブ 12.7×12.7mm
価格:¥2,200/個
在庫数:0
AG16187-19
PELCO Q SEMピンスタブ 19×19mm
価格:¥3,400/個
在庫数:0
AG16187-25
PELCO Q SEMピンスタブ 25.4×25.4mm
価格:¥3,800/個
在庫数:0
※相関顕微鏡法用
AGG1092450-10
ミクロトームスタブ
価格:¥4,200/10個
在庫数:0
AGG1092450-20
ミクロトームスタブ
価格:¥7,700/20個
在庫数:0
AGG1092450-50
ミクロトームスタブ
価格:¥17,500/50個
FEI装置用(その他顕微鏡でも使用可能)
在庫数:0
AGG1092450
ミクロトームスタブ
価格:¥34,200/100個
在庫数:0
AG15318
ピンスタブ延長
価格:¥20,400/個
・12.5mm × 3.2mm(ピン高さ)
在庫数:5
AGG3657
分析スタブ用ピンタイプアダプター
価格:¥40,300/個
・32mmスタブ(リエントラントベース)を使用可能にするアダプター
・ZEISS用
在庫数:0
AGG350-10
サンプルピン(2mmΦ)
価格:¥5,700/10個
在庫数:0
AGG350-50
サンプルピン(2mmΦ)
価格:¥27,600/50個
在庫数:0
AGG350-100
サンプルピン(2mmΦ)
価格:¥52,700/100個
在庫数:0
・Leica&RMCクライオウルトラミクロトーム用
AG16360
ピンマウント(3分割)
価格:¥2,600/個
・12.7mm
在庫数:0
AG16363
ピンマウント(3分割)
価格:¥3,000/個
・18mm
在庫数:0
AG16364
ピンマウント(9分割)
価格:¥3,100/個
・25mm
在庫数:0
AG16367
ピンマウント(12分割)
価格:¥4,300/個
・32mm
在庫数:0
※FEI/Phillips,ZEISS/LEO,Cambridge,Leica
Amray,Tescan,CamscanSEM用
AGY5596
SEMピンスタブ
価格:¥10,600/10個
・18mmΦ
・ピン高さ8mm
・ピンサイズ3.2mmΦ
在庫数:0
AG16144
SEMピンスタブ
価格:¥10,200/10個
・25.4mmΦ
・ピン高さ9.5mm
・ピンサイズ3.2mmΦ
在庫数:3
AGG301A
SEM試料スタブ
価格:¥9,000/100個
・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用
・12.5mmΦ 3.2 × 8mm
・ピン長さ8mm
・溝無し
・アルミニウム製
在庫数:0
AGG3325
SEM試料スタブ
価格:¥19,700/50個
・アルミニウム製
・12.5mmΦ
・3.2 × 15mm
・AMRAY装置用
在庫数:0
AG16148
SEMピンスタブ
価格:¥11,500/個
・32mmΦ
・ピン高さ9.5mm
・ピンサイズ3.2mmΦ
在庫数:0
AGG3030
SEM試料スタブ
価格:¥7,100/10個
・12.7mmΦ
・ピン高さ6mm
・薄型アルミニウム製
・ピンサイズ3.2mmΦ
・全長 7mm
在庫数:5
AGG321
SEM試料スタブ
価格:¥2,000/個
・12.5mmΦ
・カーボン製
・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCA, ZEISS装置用
在庫数:10
AGG301D
スロット試料スタブ
価格:¥2,200/個
・ZEISS/FEI装置用
・12.5mmΦ
・アレンキー付
・アルミニウム製
・スロット4mm幅
・グラブねじ2本付
在庫数:90
AGG3020A
SEM試料スタブ
価格:¥45,000/100個
・12.5mmΦ
・20°面取
・アルミニウム製
・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用
在庫数:0
AGG3020
SEM試料スタブ
価格:¥7,200/10個
・12.5mmΦ
・45°面取
・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN ZEISS装置用
・アルミニウム製
在庫数:10式
AGG301E
SEM試料スタブ
価格:¥6,900/10個
・12.5mmΦ
・45°面取
・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用
・アルミニウム製
在庫数:8式
AGG3029
SEM試料スタブ
価格:¥11,700/10個
・12.7mmΦ
・36°面取
・ピン高さ6mm
・薄型アルミニウム製
在庫数:7
AGG3028
SEM試料スタブ
価格:¥13,100/10個
・12.7mmΦ
・38°面取
・薄型アルミニウム製
在庫数:4
AGG3027
SEM試料スタブ
価格:¥10,000/10個
・12.7mmΦ
・90°面取
・薄型アルミニウム製
在庫数:0
AGG3031
SEM試料スタブ
価格:¥9,000/10個
・12.7mmΦ
・90°面取
・ピン高さ6mm
・薄型アルミニウム製
在庫数:1
AGG3160
SEM試料スタブ
価格:¥1,500/個
・12.7mmΦ
・45/90°面取
・ピン高さ7.8mm
・アルミニウム製
・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用
在庫数:32
AGG3162
SEM試料スタブ
価格:¥1,500/個
・12.7mmΦ
・45/90°面取
・ピン高さ9.5mm
・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用
・アルミニウム製
在庫数:28
AGG3161
SEM試料スタブ
価格:¥2,000/個
・12.7mmΦ
・薄型45°面取
・ピン高さ9.5mm
・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用
・アルミニウム製
在庫数:50
AGG3163
SEM試料スタブ
価格:¥2,300/個
・12.7mmΦ
・薄型70°面取
・ピン高さ9.5mm
・結晶解析(EBSD)用
・アルミニウム製
・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用
在庫数:56
AG16101
45°SEMマウント12.7mm
価格:¥12,900/個
・アルミニウム
・エッジ溝付
在庫数:0