PointElectronic社製品

【取扱製品】

Geometrical Analysis -BSEトポグラフィー-

電子顕微鏡を用いた、構造および表面形状の高分解能3D解析技術

 

通常の分割反射電子検出器からの信号を基に自動で3D構築が行われ

ライブでの測定が可能です。

凹凸情報と組成情報を区別し、あいまいな像解釈をなくします。

in situ実験中の形状変化をライブでモニタリングし、その差を測定できます。

3D構造にSEM像やEDSマップ、EBSDマップなどを重ねることで、

複雑な3D表面をわかりやすく表現します。

専用の標準サンプルを用いて、高さ、長さ、角度を較正します。

オフラインでの表面形状解析が可能です。

 

プレミアム反射電子検出器(4分割Si素子)

 

 

最低加速電圧     2kV

 

最低ドゥエルタイム  200ns/pixel

SEMスキャニングシステム(DISS 6)

 

 

最大画素数          64k x 64k pixel

 

最速スキャンスピード     20ns

 

二次電子信号 x4、反射電子信号 x4 を同時検出

3Dキャリブレーション用サンプル

 

 

 

 

 3DリファレンスデータはSPMで測定されています。


SEM modernization

SEMの最新化

お使いのSEMが、新しいエレクトロニクスとソフトウェア、コントロールで生まれ変わります。

SEMが設置されている場所での3日間の作業で

アップグレードが完了します。

 

お使いの機能はそのままに、さらに便利な機能が加わります。

Windows 11。ネットワークの使用可。

最速10nsのドゥエルタイムでの高速スキャン機能と

20までの信号を同時取得

 

最高500MPixelもの画像解像度

オート機能(コントラスト・ブライトネス・フォーカス・非点補正)

コントロールパネル(ジョイスティックまたはトラックボール)


TEM Scan Controller

最新の4D STEMスキャンコントローラー

REVORON

4D STEMやin situ実験用のフリービームアクセス、ピクセルマップ、超高速通信

主要なTEMモデルに対応したオープンデバイスコントロール・高速スキャン・自由なスキャンパターン・4D STEMカメラの

同期のためのトリガー調整

                REVORON                       4D STEMの同期例

     ピクセルマップの種類          イメージスキャンモード


株式会社アド電子技研

〒196-0015

東京都昭島市昭和町4-8-25

TEL:042-549-1541

FAX:042-549-1542

古物商許可番号

東京都公安委員会

第308861307027号

2025年2月
1
2 3 4 5 6 7 8
9 10 11 12 13 14 15
16 17 18 19 20 21 22
23 24 25 26 27 28
2025年3月
1
2 3 4 5 6 7 8
9 10 11 12 13 14 15
16 17 18 19 20 21 22
23 24 25 26 27 28 29
30 31

営業時間は 9:00~17:00 です。

※カレンダーのグレー部分は休業日です。



当サイトに掲載された情報(テキスト文章・写真等)の著作権は、特に記載の無い限り株式会社アド電子技研に帰属するものであり、無断で使用・複製・改変することを禁止します。