試料スタブ & マウント

AGG301

SEM試料スタブ

価格：￥8,000/100個

 ・アルミニウム製

AGG301B

SEM試料スタブ

価格：￥2,500/10個

・真鍮製

AGG301C

SEM試料スタブ

価格：￥20,000/10個

 ・銅製

※12.5mmΦ, 3.2mm × 8mm

　FEI/PHILLIPS,ZEISS装置用

AGG301F

SEM試料スタブ

価格：￥8,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

AGG301F-B

SEM試料スタブ

価格：￥25,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・真鍮製

AGG301P

SEMピンスタブ

価格：￥12,000/100個

・高純度アルミニウム製

・12.5mmΦ

AGG399

SEM試料スタブ

価格：￥17,000/50個

・アルミニウム製

AGG399B

SEM試料スタブ

価格：￥6,500/10個

・真鍮製

※LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN, ZEISS製装置用

25mmΦ, 3.2 × 8mm

AGG399F

SEM試料スタブ

価格：￥17,000/50個

・25mmΦ

・3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

・LEO/ZEISS装置用

AGG3026

フラットピンスタブ

価格：￥7,000/10個

・12.7mmΦ

・薄型

・アルミニウム製

AGG319

ピンスタブ

価格：￥32,000/個

・100mmΦ×9.5mm(ピン高さ)

・アルミニウム製

・AMRAY, Cambridge, Leica, ZEISS/LEO,    　FEI/Phillips, Camscan & TESCAN用

AG16187-12

PELCO Q SEMピンスタブ 12.7×12.7mm

価格：￥2,000/個

AG16187-19

PELCO Q SEMピンスタブ 19×19mm

価格：￥2,800/個

AG16187-25

PELCO Q SEMピンスタブ 25.4×25.4mm

価格：￥3,200/個

※相関顕微鏡法用

AGG1092450-10

ミクロトームスタブ

価格：￥3,500/10個

AGG1092450-20

ミクロトームスタブ

価格：￥6,500/20個

AGG1092450-50

ミクロトームスタブ

価格：￥14,000/50個

FEI装置用(その他顕微鏡でも使用可能)

AGG1092450

ミクロトームスタブ

価格：￥27,000/100個

AG15318

ピンスタブ延長

価格：￥16,000/個

・12.5mm × 3.2mm(ピン高さ)

AGG3657

分析スタブ用ピンタイプアダプター

価格：￥34,000/個

・32mmスタブ(リエントラントベース)を使用可能にするアダプター

・ZEISS用

AGG350-10

サンプルピン(2mmΦ)

価格：￥4,500/10個

AGG350-50

サンプルピン(2mmΦ)

価格：￥21,000/50個

AGG350-100

サンプルピン(2mmΦ)

価格：￥42,000/100個

・Leica＆RMCクライオウルトラミクロト　ーム用

AG16360

ピンマウント(3分割)

価格：￥2,200/個

・12.7mm

AG16363

ピンマウント(3分割)

価格：￥2,700/個

・18mm

AG16364

ピンマウント(9分割)

価格：￥2,700/個

・25mm

AG16367

ピンマウント(12分割)

価格：￥3,500/個

・32mm

※FEI/Phillips,ZEISS/LEO,Cambridge,Leica

Amray,Tescan,CamscanSEM用                                                                                    

AGY5596

SEMピンスタブ

価格：￥8,200/10個

・18mmΦ

・ピン高さ8mm

・ピンサイズ3.2mmΦ

AG16144

SEMピンスタブ

価格：￥8,000/10個

・25.4mmΦ

・ピン高さ9.5mm

・ピンサイズ3.2mmΦ

AGG301A

SEM試料スタブ

価格：￥9,000/100個

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 8mm

・ピン長さ8mm

・溝無し

・アルミニウム製

AGG3325

SEM試料スタブ

価格：￥15,000/50個

・アルミニウム製

・12.5mmΦ

・3.2 × 15mm

・AMRAY装置用

AG16148

SEMピンスタブ

価格：￥8,800/個

・32mmΦ

・ピン高さ9.5mm

・ピンサイズ3.2mmΦ

AGG3030

SEM試料スタブ

価格：￥6,000/10個

・12.7mmΦ

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

・ピンサイズ3.2mmΦ

AGG321

SEM試料スタブ

価格：￥2,000/個

・12.5mmΦ

・カーボン製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCA, ZEISS装置用

AGG301D

スロット試料スタブ

価格：￥2,100/個

・ZEISS/FEI装置用

・12.5mmΦ

・アレンキー付

・アルミニウム製

・スロット4mm幅

・グラブねじ２本付

AGG3020A

SEM試料スタブ

価格：￥35,000/100個

・12.5mmΦ

・20°面取

・アルミニウム製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用

AGG3020

SEM試料スタブ

価格：￥4,200/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN ZEISS装置用

・アルミニウム製

AGG301E

SEM試料スタブ

価格：￥3,600/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用

・アルミニウム製

AGG3029

SEM試料スタブ

価格：￥9,200/10個

・12.7mmΦ

・36°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

AGG3028

SEM試料スタブ

価格：￥11,000/10個

・12.7mmΦ

・38°面取

・薄型アルミニウム製

AGG3027

SEM試料スタブ

価格：￥8,200/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・薄型アルミニウム製

AGG3031

SEM試料スタブ

価格：￥7,500/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

AGG3160

SEM試料スタブ

価格：￥1,500/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ7.8mm

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

AGG3162

SEM試料スタブ

価格：￥1,500/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製

AGG3161

SEM試料スタブ

価格：￥1,200/個

・12.7mmΦ

・薄型45°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製

AGG3163

SEM試料スタブ

価格：￥2,300/個

・12.7mmΦ

・薄型70°面取

・ピン高さ9.5mm

・結晶解析(EBSD)用

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

AG16101

45°SEMマウント12.7mm

価格：￥12,000/個

・アルミニウム

・エッジ溝付