試料スタブ & マウント


AGG301

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/100個

・アルミニウム製

 

AGG301B

SEM試料スタブ

価格:¥2,500/10個

・真鍮製

 

AGG301C

SEM試料スタブ

価格:¥20,000/10個

 ・銅製

※12.5mmΦ, 3.2mm × 8mm

 FEI/PHILLIPS,ZEISS装置用


AGG301F

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

 

AGG301F-B

SEM試料スタブ

価格:¥25,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・真鍮製


AGG301P

SEMピンスタブ

価格:¥12,000/100個

 

・高純度アルミニウム製

・12.5mmΦ


AGG399

SEM試料スタブ

価格:¥16,000/50個

・アルミニウム製

 

AGG399B

SEM試料スタブ

価格:¥6,500/10個

・真鍮製

 

※LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN, ZEISS製装置用

25mmΦ, 3.2 × 8mm


AGG399F

SEM試料スタブ

価格:¥16,000/50個

・25mmΦ

・3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

・LEO/ZEISS装置用


AGG3026

フラットピンスタブ

価格:¥7,000/10個

・12.7mmΦ

・薄型

・アルミニウム製


AGG319  ピンスタブ

AGG319

ピンスタブ

価格:¥28,000/個

 

・100mmΦ×9.5mm(ピン高さ)

・アルミニウム製

・AMRAY, Cambridge, Leica, ZEISS/LEO,     FEI/Phillips, Camscan & TESCAN用


PELCO Q SEMピンスタブ

AG16187-12

PELCO Q SEMピンスタブ 12.7×12.7mm

価格:¥1,600/個

 

AG16187-19

PELCO Q SEMピンスタブ 19×19mm

価格:¥2,400/個

 

AG16187-25

PELCO Q SEMピンスタブ 25.4×25.4mm

価格:¥2,800/個

 

※相関顕微鏡法用


ミクロトームスタブ

AGG1092450-10

ミクロトームスタブ

価格:¥3,000/10個

 

AGG1092450-20

ミクロトームスタブ

価格:¥6,000/20個

 

AGG1092450-50

ミクロトームスタブ

価格:¥12,000/50個

FEI装置用(その他顕微鏡でも使用可能)

AGG1092450

ミクロトームスタブ

価格:¥23,000/100個


AG15318  ピンスタブ延長

AG15318

ピンスタブ延長

価格:¥14,000/個

 

・12.5mm × 3.2mm(ピン高さ)


AGG3657  分析スタブ用ピンタイプアダプター

AGG3657

分析スタブ用ピンタイプアダプター

価格:¥32,000/個

 

・32mmスタブ(リエントラントベース)を使用可能にするアダプター

・ZEISS用


AGG350-10

サンプルピン(2mmΦ)

価格:¥4,500/10個

 

 

AGG350-50

サンプルピン(2mmΦ)

価格:¥20,000/50個

 

AGG350-100

サンプルピン(2mmΦ)

価格:¥36,000/100個

 

・Leica&RMCクライオウルトラミクロト ーム用


AG16360

ピンマウント(3分割)

価格:¥2,000/個

・12.7mm

 

AG16363

ピンマウント(3分割)

価格:¥2,500/個

・18mm

 

AG16364

ピンマウント(9分割)

価格:¥2,500/個

・25mm

 

AG16367

ピンマウント(12分割)

価格:¥3,500/個

・32mm

※FEI/Phillips,ZEISS/LEO,Cambridge,Leica

Amray,Tescan,CamscanSEM用                                                                                    


AGY5596

SEMピンスタブ

価格:¥8,000/10個

・18mmΦ

・ピン高さ8mm

・ピンサイズ3.2mmΦ


AG16144

SEMピンスタブ

価格:¥7,000/10個

・25.4mmΦ

・ピン高さ9.5mm

・ピンサイズ3.2mmΦ


AGG301A

SEM試料スタブ

価格:¥9,000/100個

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 8mm

・ピン長さ8mm

・溝無し

・アルミニウム製


AGG3325

SEM試料スタブ

価格:¥15,000/50個

・アルミニウム製

・12.5mmΦ

・3.2 × 15mm

・AMRAY装置用


AG16148

SEMピンスタブ

価格:¥8,500/個

・32mmΦ

・ピン高さ9.5mm

・ピンサイズ3.2mmΦ


AGG3030

SEM試料スタブ

価格:¥6,000/10個

・12.7mmΦ

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

・ピンサイズ3.2mmΦ


AGG321

SEM試料スタブ

価格:¥1,500/個

・12.5mmΦ

・カーボン製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCA, ZEISS装置用


AGG301D

スロット試料スタブ

価格:¥2,000/個

・ZEISS/FEI装置用

・12.5mmΦ

・アレンキー付

・アルミニウム製

・スロット4mm幅

・グラブねじ2本付


AGG3020A

SEM試料スタブ

価格:¥35,000/100個

・12.5mmΦ

・20°面取

・アルミニウム製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用


AGG3020

SEM試料スタブ

価格:¥4,000/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG301E

SEM試料スタブ

価格:¥3,500/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG3029

SEM試料スタブ

価格:¥9,000/10個

・12.7mmΦ

・36°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製


AGG3028

SEM試料スタブ

価格:¥10,000/10個

・12.7mmΦ

・38°面取

・薄型アルミニウム製


AGG3027

SEM試料スタブ

価格:¥7,500/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・薄型アルミニウム製


AGG3031

SEM試料スタブ

価格:¥7,000/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製


AGG3160

SEM試料スタブ

価格:¥1,000/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ7.8mm

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用


AGG3162

SEM試料スタブ

価格:¥1,000/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG3161

SEM試料スタブ

価格:¥900/個

・12.7mmΦ

・薄型45°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG3163

SEM試料スタブ

価格:¥2,000/個

・12.7mmΦ

・薄型70°面取

・ピン高さ9.5mm

・結晶解析(EBSD)用

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用


AG16101  45°SEMマウント12.7mm

AG16101

45°SEMマウント12.7mm

価格:¥10,000/個

 

 

・アルミニウム

・エッジ溝付


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2022年10月
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