試料スタブ & マウント

試料スタブ収納箱 試料スタブ - Modular 試料スタブ & マウント


AG16101  45°SEMマウント12.7mm

AG16101

45°SEMマウント12.7mm

価格:¥10,000/個

 

 

・アルミニウム

・エッジ溝付


AG16356  マウント90°

AG16356

マウント90°

価格:¥3,000/個

 

・アルミニウム製

・25×16×M4


AG16357  マウント45°/90°

AG16357

マウント45°/90°

価格:¥3,000/個

 

・アルミニウム製

・25×16×M4


AG16308-4  バルク試料ホルダー

AG16308-4

バルク試料ホルダー

価格:¥32,000/個

 

不規則及び円形試料を最大32mmΦまで扱うことが可能


AGG3420  カーボンディスク(12.5mmスタブ用)10個

AGG3420

カーボンディスク(12.5mmスタブ用)10個

価格:¥15,000/式

 

標準的な12.5mmスタブ上の3mm厚カーボンディスク。微細分析または、軽元素スタブを必要とする低エミッション表面画像化アプリケーションでの経済的な解決法となるアイテムです。


カーボンディスク

AGG3420A

12.5mmカーボンディスク

価格:¥11,000/10個

 

AGG3421

15mmカーボンディスク

価格:¥10,000/個

 

AGG3421A

15mmカーボンディスク

価格:¥28,000/10個

 

AGG342225mmカーボンディスク

価格:¥3,000/個

 

AGG3422A25mmカーボンディスク

価格:¥25,000/10個


AGG303-10

CorrStub - V字切込SEM試料スタブ

価格:¥5,000/10個

 

AGG303-S-10

CorrStub - V字切込シリアルナンバー入SEM試料スタブ

価格:¥8,000/10個

 

AGG303-T-10

CorrStub - V字切込SEM試料スタブ(アルミニウム製コアタブ&チューブ付)

価格:¥8,000/10個

 

CorrStubは、相関顕微鏡と法医学分析のために特別に設計されたSEMピンスタブです。

AGG303-TS-10CorrStub - V字切込シリアルナンバー入

SEM試料スタブ(アルミニウム製コアタブ&チューブ付)

価格:¥12,000/10個

 


AGG303-T-12

CorrStub - V字切込SEM試料スタブ(アルミニウム製コアタブAGG3103付)

価格:¥12,000/12個

 

AGG303-TS-12

CorrStub - V字切込シリアルナンバー入SEM試料スタブ(アルミニウム製コアタブAGG3103付)

価格:¥16,000/12個

 

AGG303-LT-10

CorrStub - V字切込SEM試料スタブ(チューブとLeitカーボンタブ付)

価格:¥7,500/10個


AGG303-LTS-10

CorrStub - V字切込シリアルナンバー入SEM試料スタブ(チューブとLeitカーボンタブ付)

価格:¥10,000/10個

 

AGG303-LT-12

CorrStub - V字型SEM試料スタブ(プラスチック製箱AGG3103とLeitカーボンタブ付)

価格:¥10,000/12個

 

AGG303-LTS-12

CorrStub - V字切込シリアルナンバー入

SEM試料スタブ(プラスチック製箱 

価格:¥15,000/12個


AGY5590  クロスセクションホルダー,M4

AGY5590

クロスセクションホルダー,M4

価格:¥33,000/個

 


AGG3032-251J

SEMクリップ25mm×8mmシリンダーマウント1クリップ

価格:¥6,500/個

 

AGG3032-252J

SEMクリップ25mm×8mmシリンダーマウント2クリップ

価格:¥9,500/個

AGG3032-253J

SEMクリップ25mm×8mmシリンダー

マウント3クリップ

価格:¥12,000/個


AG16341  ダブルスロットネジバイス

AG16341

ダブルスロットネジバイス

価格:¥8,000/個

 

・M4

・Φ15×6mm


ミクロトームスタブ

AGG1092450-10

ミクロトームスタブ

価格:¥3,000/10個

 

AGG1092450-20

ミクロトームスタブ

価格:¥6,000/20個

 

AGG1092450-50

ミクロトームスタブ

価格:¥12,000/50個

FEI装置用(その他顕微鏡でも使用可能)

AGG1092450

ミクロトームスタブ

価格:¥23,000/100個


AGG3392  グリップスタブ

AGG3392

グリップスタブ

価格:¥14,000/個

 

・SEM観察用

・試料を真横にマウント可能


AGG301P

SEMピンスタブ

価格:¥12,000/100個

 

・高純度アルミニウム製

・12.5mmΦ


AGY5048  プロファイルホルダー

AGY5048

プロファイルホルダー

価格:¥43,000/個

 

・Hitachi製

・調節可能

・M4


AGG3592  ピンスタブ6個用M4ホルダー

AGG3592

ピンスタブ6個用M4ホルダー

価格:¥18,500/個


Hitachiシリンダーマウント,M4

AG16324

Hitachiシリンダーマウント15×6mm,M4

価格:¥4,000/10個

 

AGG3377B

Hitachiシリンダーマウント25×6mm,M4

価格:¥7,500/10個

 

AG16325

Hitachiシリンダーマウント32×6mm,M4

価格:¥10,000/10個

 

※Hitachi製TM3030/TM3000/TM1000卓上SEM用シリンダー試料マウント


AGG3591  Hitachi製スタブホルダー(3個用)

AGG3591

Hitachi製スタブホルダー(3個用)

価格:¥12,000/個

 

・アルミニウム製ホルダー(M4ネジ)

・15mmのHitachi製スタブ3個マウント可


AG15396-10  ステージアダプター

AG15396-10

ステージアダプター

価格:¥75,000/個

 

・JEOL製6400/5800ステージ用

・ピンマウント用


AG15321-4  大サイズ試料ホルダー,M4

AG15321-4

大サイズ試料ホルダー,M4

価格:¥35,000/個

 

・ホールディングスペースは、

 幅32mm (1 1/4")

 長32mm (1 1/4")

   高13mm (1/2")


AG16104  SEMマウント

AG16104

SEMマウント

価格:¥1,500/個

 

・薄型45°/90°

・12.7mmΦ

 


AG15405  試料ホルダー

AG15405

試料ホルダー

価格:¥25,000/個

 

・40mm金属顕微鏡マウント用

・M4


AG15411  マルチホルダー

AG15411

マルチホルダー

価格:¥27,000/個

 

・M4

・6ピンスタブ用

・標準的な12.7mmピンスタブ最大6個


AG15417  マルチホルダー

AG15417

マルチホルダー

価格:¥35,000/個

 

・M4

・12ピンスタブ用

・標準的な12.7mmピンスタブ最大12個


PELCO Q SEMピンスタブ

AG16187-12

PELCO Q SEMピンスタブ 12.7×12.7mm

価格:¥1,600/個

 

AG16187-19

PELCO Q SEMピンスタブ 19×19mm

価格:¥2,400/個

 

AG16187-25

PELCO Q SEMピンスタブ 25.4×25.4mm

価格:¥2,800/個

 

※相関顕微鏡法用


AGG319  ピンスタブ

AGG319

ピンスタブ

価格:¥28,000/個

 

・100mmΦ×9.5mm(ピン高さ)

・アルミニウム製

・AMRAY, Cambridge, Leica, ZEISS/LEO,     FEI/Phillips, Camscan & TESCAN用


AG15318  ピンスタブ延長

AG15318

ピンスタブ延長

価格:¥14,000/個

 

・12.5mm × 3.2mm(ピン高さ)


AGG3657  分析スタブ用ピンタイプアダプター

AGG3657

分析スタブ用ピンタイプアダプター

価格:¥32,000/個

 

・32mmスタブ(リエントラントベース)を使用可能にするアダプター

・ZEISS用


AGG3210  1型FESEMマウント

AGG3210

1型FESEMマウント

価格:¥12,500/個

 

・Hitachi製(S-5200, S-5500)用

・11mm × 5.5mm × 4mm

・アルミニウム製


AGG3211  2型FESEMマウント

AGG3211

2型FESEMマウント

価格:¥15,000/個

 

・Hitachi製(S-5200, S-5500)用

・11mm × 5.5mm × 3.5mm

・アルミニウム製


AGG3212  3型FESEMマウント

AGG3212

3型FESEMマウント

価格:¥17,000/個

 

・Hitachi製(S-5200, S-5500)用

・11mm × 5.5mm × 5.5mm

・アルミニウム製


AGG3213  4型FESEMマウント

AGG3213

4型FESEMマウント

価格:¥17,000/個

 

・Hitachi製(S-5200, S-5500)用

・11mm × 5.5mm × 2mm

・アルミニウム製


SEMクリップ用交換クリップ   SEMクリップマウント用交換ネジ

AGG3032C

SEMクリップ用交換クリップ

価格:¥22,500/10個

 

AGG3032S

SEMクリップマウント用交換ネジ

                                                                                         価格:¥7,000/10個

※SEMクリップはスプリンググレードの

ベリリウム銅合金により製造されています。


AGG29961

回転式SEM試料ホルダー - ピンマウント

価格:¥48,000/個

 

AGG29961 - H

回転式SEM試料ホルダー - M4マウント

価格:¥43,000/個

 

回転式SEM試料ホルダーにより、サンプルを固定し360°回転が可能。電子吸収チャンバーとの組合せによりクリアな画像獲得が可能です。


AGG350-10

サンプルピン(2mmΦ)

価格:¥4,500/10個

 

 

AGG350-50

サンプルピン(2mmΦ)

価格:¥20,000/50個

 

AGG350-100

サンプルピン(2mmΦ)

価格:¥36,000/100個

 

・Leica&RMCクライオウルトラミクロト ーム用


AG16365

シリンダーマウント

価格:¥2,500/個

・Hitachi製SEM用

・25×6mm×M4(9分割)

 

AG16368

シリンダーマウント

価格:¥3,000/個

・Hitachi製SEM用

・32×6mm×M4(12分割)


AG16366

シリンダーマウント

価格:¥2,500/個

・JEOL製SEM用

・25×8mm(9分割)

 

AG16366

シリンダーマウント

価格:¥3,000/個

・JEOL製SEM用

 

・32×10mm(12分割)


AGY5507

シリンダーマウント

価格:¥900/個

・JEOL製SEM用

・25×5mm

 

AG16217

シリンダーマウント

価格:¥1,000/個

・JEOL製SEM用

・32×5mm

 

AG16222

シリンダーマウント

価格:¥2,000/個

・JEOL製SEM用

・50×5mm


AGG3590

SEM金属マウントサンプルホルダー

価格:¥18,000/個

・1.25インチφ

 

AGG3590A

SEM金属マウントサンプルホルダー

価格:¥17,000/個

・1.5インチφ

 

AGG3590B

SEM金属マウントサンプルホルダー

価格:¥20,000/個

・1インチφ

 

※ピンスタブマウント付


AG16360

ピンマウント(3分割)

価格:¥2,000/個

・12.7mm

 

AG16363

ピンマウント(3分割)

価格:¥2,500/個

・18mm

 

AG16364

ピンマウント(9分割)

価格:¥2,500/個

・25mm

 

AG16367

ピンマウント(12分割)

価格:¥3,500/個

・32mm

※FEI/Phillips,ZEISS/LEO,Cambridge,Leica

Amray,Tescan,CamscanSEM用                                                                                    


AGY5596

SEMピンスタブ

価格:¥8,000/10個

・18mmΦ


AG16144

SEMピンスタブ

価格:¥7,000/10個

・25.4mmΦ

・ピン高さ9.5mm


AG16148

SEMピンスタブ

価格:¥8,500/個

・32mmΦ

・ピン高さ9.5mm


AGG3696

SEM前処理スタンド

価格:¥32,000/個

・ピンタイプ10mmΦスタブ用

 

AGG3698

SEM前処理スタンド

価格:¥27,000/個

・ピンタイプ12.5mmΦスタブ用

78mmΦ × 12mm(H) アルミ製スタンド

AGG3697

SEM前処理スタンド

 価格:¥20,000/個

・ピンタイプ15mmΦスタブ用

 


AGG3166

SEM試料スタブ

価格:¥1,700/個

・10mmΦ 10mm(H) 45°面

・JEOL製SEM試料用

・アルミニウム製


AGG301F

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

 

AGG301F-B

SEM試料スタブ

価格:¥25,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・真鍮製


AGG3205

環境制御型SEM用試料スタブ

価格:¥25,000/100個

・10mmアルミ製

 

AGG3205C

環境制御型SEM用試料スタブ

価格:¥30,000/50個

・10mm銅製

 

AGG3206

環境制御型SEM用試料スタブ(カップ状)

価格:¥30,000/100個

・10mmアルミ製


AGG3205-3/8

環境制御型SEM用試料スタブ

価格:¥25,000/100個

・3/8’’アルミ製

 

AGG3205C-3/8

環境制御型SEM用試料スタブ

価格:¥38,000/100個

・3/8''銅製

 

 AGG3206-3/8

環境制御型SEM用試料スタブ(カップ状)

価格:¥30,000/100個

・3/8''アルミ製


AGG323A

SEM試料スタブ

価格:お問い合わせください

・9.5mmΦ,9.5mm(H)カーボン製

 

AGG323A-10

SEM試料スタブ(10個)

価格:お問い合わせください

・9.5mmΦ,9.5mm(H)カーボン製

 

AGG323A-100

SEM試料スタブ

価格:¥50,000/100個

・9.5mmΦ,9.5mm(H)カーボン製

 


AGG306A

SEM試料スタブ

価格:¥3,000/個

・JEOL製ヒートステージ用

・10mmΦ

・5mm(H)


AGG306E

SEM試料スタブ

価格:¥25,000/50個

・10mmΦ

・5mm(H)


AGG306

SEM試料スタブ

価格:¥3,000/50個

・JEOL装置用

・アルミニウム製

・10mmΦ, 10mm(H)

 

AGG306B

SEM試料スタブ

価格:¥10,000/50個

・JEOL装置用

・真鍮製

・10mmΦ, 10mm(H)


AGG3424

SEM試料スタブ

価格:¥2,800/個

・10mmΦ

・角度付

・カーボン製

・JEOL装置用


AGG339

SEM試料スタブ

価格:¥2,300/個

・10mmΦ

・角度付45°

・アルミニウム製

・JEOL装置用


AGG301A

SEM試料スタブ

価格:¥9,000/100個

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 8mm

・ピン長さ8mm

・溝無し

・アルミニウム製


AGG301

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/100個

・アルミニウム製

 

AGG301B

SEM試料スタブ

価格:¥2,500/10個

・真鍮製

 

AGG301C

SEM試料スタブ

価格:¥20,000/10個

 ・銅製

※12.5mmΦ, 3.2mm × 8mm

 FEI/PHILLIPS,ZEISS装置用


AGG3325

SEM試料スタブ

価格:¥15,000/50個

・アルミニウム製

・12.5mmΦ

・3.2 × 15mm

・AMRAY装置用


AGG3385

SEM試料スタブ

価格:¥2,800/50個

・JEOL装置用

・12.5mmΦ

・5mm(H)


AGG3427

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/個

・JEOL装置用

・12.5mmΦ

・10mm(H)

・カーボン製


AGG3384

SEM試料スタブ

価格:¥4,000/50個

・JEOL装置用

・12.5mmΦ

・10mm(H)

・アルミニウム製


AGG301D

スロット試料スタブ

価格:¥2,000/個

・JEOL装置用

・12.5mmΦ

・アレンキー付

・アルミニウム製

・スロット4mm幅

・グラブねじ2本付


AGG3020A

SEM試料スタブ

価格:¥35,000/100個

・12.5mmΦ

・20°面取

・アルミニウム製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用


AGG3020

SEM試料スタブ

価格:¥4,000/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG301E

SEM試料スタブ

価格:¥3,500/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG321

SEM試料スタブ

価格:¥1,500/個

・12.5mmΦ

・カーボン製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCA, ZEISS装置用


AGG3030

SEM試料スタブ

価格:¥6,000/10個

・12.7mmΦ

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製


AGG3029

SEM試料スタブ

価格:¥9,000/10個

・12.7mmΦ

・36°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製


AGG3028

SEM試料スタブ

価格:¥10,000/10個

・12.7mmΦ

・38°面取

・薄型アルミニウム製


AGG3027

SEM試料スタブ

価格:¥7,500/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・薄型アルミニウム製


AGG3031

SEM試料スタブ

価格:¥7,000/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製


AGG3160

SEM試料スタブ

価格:¥1,000/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ7.8mm

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用


AGG3162

SEM試料スタブ

価格:¥1,000/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG3161

SEM試料スタブ

価格:¥900/個

・12.7mmΦ

・薄型45°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製


AGG3163

SEM試料スタブ

価格:¥2,000/個

・12.7mmΦ

・薄型70°面取

・ピン高さ9.5mm

・結晶解析(EBSD)用

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用


AGG3026

フラットピンスタブ

価格:¥7,000/10個

・12.7mmΦ

・薄型

・アルミニウム製


AGG3021

SEM試料スタブ

価格:¥9,000/50個

・15mmΦ

・5mm(H)

・アルミニウム製

・JEOL装置用


AGG3423

SEM試料スタブ

価格:¥2,000/個

・15mmΦ

・6mm(H)

・M4

・カーボン製

・HITACHI製装置用


AGG3313

SEM試料スタブ

価格:¥14,000/50個

・15mmΦ

・6mm(H)

・M4

・アルミニウム製

・HITACHI製装置用


AGG3167

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/個

・15mmΦ

・10mm(H)

・45°面取

・アルミニウム製

・JEOL製装置用


AGG3168

SEM試料スタブ

価格:¥12,500/10個

・15mmΦ

・10mm(H)

・70°面取

・結晶解析用

・JEOL製装置用


AGG3313A

SEM試料スタブ

価格:¥2,000/個

・15mmΦ

・10mm(H)

・M4

・45°面取

・HITACHI製装置用


AGG3313D

SEM試料スタブ

価格:¥3,000/個

・15mmΦ

・10mm(H)

・M4

・45/90°面取

・HITACHI製装置用

・アルミニウム製


AGG307

SEM試料スタブ

価格:¥8,000/50個

・15mmΦ

・10mm(H)

・アルミニウム製

・ISI/ABT/TOPCON装置用


AGG3313B

SEM試料スタブ

価格:¥2,000/個

・15mmΦ

・12mm(H)

・M4

・70°面取

・結晶解析(EBSD)用

・HITACHI製装置用

・アルミニウム製


AGG308

SEM試料スタブ

価格:¥4,000/10個

・15mmΦ

・45°面取

・アルミニウム製

・ISI/ABT/TOPCON装置用


AGG3425

SEM試料スタブ

価格:¥3,500/個

・15mmΦ

・カーボン製

・ISI/ABT/TOPCON製装置用

・角度付


AGG3595

SEM試料スタブ

価格:¥16,000/100個

・25.4mm正方形

・メディカル用

・アルミニウム製


AGG399F

SEM試料スタブ

価格:¥16,000/50個

・25mmΦ

・3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

・LEO/ZEISS装置用


AGG399

SEM試料スタブ

価格:¥16,000/50個

・アルミニウム製

 

AGG399B

SEM試料スタブ

価格:¥6,500/10個

・真鍮製

 

※LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN, ZEISS製装置用

25mmΦ, 3.2 × 8mm


AGG3023

SEM試料スタブ

価格:¥16,000/50個

・25mmΦ

・5mm(H)

・シリンダースタブ

・JEOL装置用

・アルミニウム製


AGG3377

SEM試料スタブ

価格:¥12,500/50個

・25mmΦ

・6mm(H)

・M4

・アルミニウム製

・HITACHI製装置用


AGG3024

SEM試料スタブ

価格:¥23,000/50個

・25mmΦ

・10mm(H)

・シリンダースタブ

・アルミニウム製

・JEOL製装置用


AGG3171

SEM試料スタブ

価格:¥3,000/個

・25mmΦ

・16mm(H)

・45/90°面取

・アルミニウム製

・JEOL製装置用


AGG3172

SEM試料スタブ

価格:¥3,000/個

・25mmΦ

・16mm(H)

・ダブル90°面取

・アルミニウム製

・JEOL製装置用

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古物商許可番号

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第308861307027号

 

営業日カレンダー

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2021年10月
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