テストサンプル

AGS130-02

ポリスチレンラテックス球0.03㎛(10ml)

価格:¥7,000/個

 

AGS130-04

ポリスチレンラテックス球0.08㎛(10ml)

価格:¥7,000/個

 

AGS130-06

ポリスチレンラテックス球0.09㎛(10ml)

価格:¥7,000/個


AGS171

Chessy サンプル

価格:¥330,000/個

 

・160万個のAu正方形配置/シリコン上


AGS168

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格:¥20,000/個

・ピンスタブ上

 

AGS168A

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格:¥20,000/個

・10mmJEOL製スタブ上

 

AGS168C

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格:¥20,000/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズは およそ5~150nm です。


AGS1969

カーボン上金蒸着 高分解能測定試料

価格:¥31,000/個

・12.5mmピンスタブ上

 

AGS1969A

カーボン上金蒸着 高分解能測定試料

価格:¥31,000/個

・JEOL製スタブ上(Φ12.5mm 3.2×8mm(H))

 

AGS1969C

カーボン上金蒸着 高分解能測定試料

価格:¥31,000/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズはおよそ3~50nmです。


AGS1987

カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料

価格:¥48,000/個

・12.5mmピンスタブ上

 

AGS1987A

カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料

価格:¥46,000/個

・10mmJEOL製スタブ上

 

AGS1987C

カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料

価格:¥46,000/個

・15mmHitachi製スタブ上

※粒子サイズはおよそ2nm~30nmです。


AGS168Z

カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料

価格:¥24,500/個

・12.5mmピンスタブ上

 

AGS168AZ

カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料

価格:¥24,500/個

・10mmJEOL製スタブ上

 

AGS168CZ

カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料

価格:¥24,500/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズは30~300nmです。


AGS1808

Pelco Nanogold分解能テストサンプル

価格:¥42,000/個

・12.5mmピンスタブ上

・38nm(±4nm)

 

AGS1808A

Pelco Nanogold分解能テストサンプル

価格:¥55,000/個

・Φ10mm×5(H)JEOL製スタブ上

・38nm(±4nm)

 

AGS1808C

Pelco Nanogold分解能テストサンプル

価格:¥42,000/個

・15mmΦHitachi製スタブ上

・38nm(±4nm)

・6mm(H)、M4ネジ穴(5mm)、シリンダータイプ

 

※シリコン上金蒸着分解能観察用テストサンプルです。それぞれの粒子サイズは一定で既知のため、SEM、FIB/SEMにて高分解能テストに適しています。


AGS1937

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格:¥37,000/個

・ピンスタブ上

 

AGS1937A

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格:¥36,000/個

・10mmJEOL製スタブ上

 

AGS1937C

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格:¥37,000/個

・15mmHitachi製スタブ上

※粒子サイズはおよそ5nm~30㎛です。


AGS1967

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格:¥28,000/個

・ピンスタブ上

 

AGS1967A

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格:¥28,000/個

・JEOL製スタブ上

 

AGS1967C

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格:¥27,000/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズは約10~100nmです。


AGS1988

カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料

価格:¥35,000/個

・12.5mmピンスタブ上

 

AGS1988A

カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料

価格:¥35,000/個

・10mmJEOL製スタブ上

 

AGS1988C

カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料

価格:¥35,000/個

・15mmHitachi製スタブ上

※粒子サイズは約20nm~400nmです。


AGS145

中分解能 Al - W 樹脂状構造

価格:¥55,000/個

・マウント無し状態での提供

・グレーレベルテスト可能


AGS1950

BSE標準試料 - Ni/Cu

価格:¥80,000/個

 

AGS1951

BSE標準試料 - Pd/Au

価格:¥78,000/個

 

AGS1952

BSE標準試料 - Pt/Au

価格:¥77,000/個

 

AGS1954

BSE標準試料 - Al/Si

価格:¥82,000/個


AGS1953

Duplex試料

価格:¥87,000/個

 

※平均原子番号の違いが僅か0.1である銅と亜鉛の合金試料です。


AGS1990

Geller社  Reference Standard MRS3 -Non Traceable

価格:お問い合わせください

 

AGS1991

Geller社  Reference Standard MRS3  -XY Traceable

価格:お問い合わせください

 

AGS1992

Geller社  Reference Standard MRS3  -XYZ Traceable

価格:お問い合わせください

 

X10~X50,000の校正サンプルとして使用可能

Pinスタブ用やHitachiスタブ用等のリテーナーが用意されています。

リテーナーも併せてお問い合わせください。

ダウンロード
MRS-3-bro-latest 150707.pdf
PDFファイル 786.3 KB

AGS1810

Geller社  Reference Standard MRS4 -Non Traceable

価格:お問い合わせください

 

AGS1811

Geller社  Reference Standard MRS4  -XY Traceable

価格:お問い合わせください

 

AGS1812

Geller社  Reference Standard MRS4  -XYZ Traceable

価格:お問い合わせください

 

X10~X200,000の校正サンプルとして使用可能

Pinスタブ用やHitachiスタブ用等のリテーナーが用意されています。

リテーナーも併せてお問い合わせください。

ダウンロード
MRS-4.2_160512.pdf
PDFファイル 1.7 MB

AGS1862

144nm 認定較正用標準試料

価格:お問い合わせください

・12.5mmピンスタブ上

 

AGS1862A

144nm 認定較正用標準試料

価格:お問い合わせください

・10mmJEOL製スタブ上

 

AGS1862C

144nm 認定較正用標準試料

価格:お問い合わせください

・15mmHitachi製スタブ上

 

※German PTB(Physikalisch-Technische Bundesanstalt)の認定試料です。AFM、STM、Auger、FIB、SEMに適しています。


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